11月26日，应数学与信息科学学院邀请，北京理工大学田玉斌教授为学院师生作了题为“A Sequential Design for Determining the Quantile Curve in Two‐Factor Sensitivity Tests”的线下报告。

报告中，田玉斌教授介绍了双因素敏感性试验分位数曲线序列设计。田玉斌教授首先介绍了其背景发展，指出在实际的多因素敏感性实验中估计分位数仍是一个重要的挑战。接下来田玉斌教授结合图表具体介绍了估计分位数曲线的最优设计方法，并分析其优势和可行性。

报告结束后，田玉斌教授与台下师生就相关的科研问题进行了深入交流。

专家简介：

田玉斌，教授，博士生导师，现任北京理工大学数学与统计学院院长。中国现场统计研究会试验设计分会副理事长，中国数学会均匀设计分会副主任委员，长期从事数理统计、试验设计与可靠性优化方向的研究；多次在全国和国际学术会议做大会报告和邀请报告，作为国际会议主席（共同）主持国际会议3次。 先后主持国家自然科学基金委项目、国家国防科技工业局技术基础项目和航天预先研究项目、原总装备部共性技术预先研究项目和重点基金项目10余项。研究成果已经应用于我国十余种燃爆产品的可靠性设计与分析、以及天宫系列卫星和我国新一代遥感卫星智能系统的设计与研发。获国防科技进步奖2项、军队科技进步奖1项。研究成果被编制为国军标1项，美军标1项。

（数学与信息科学学院王静）